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Scientific Compass 可为您提供原子力显微镜 (AFM) 服务。 原子力显微镜已广泛应用于半导体、纳米功能材料、生物、化工、食品、药物研究和科研院所各种纳米相关学科的研究实验。 , 已成为纳米科学研究的基本工具。

在原子力显微镜AFM测试过程中粗糙度ra，科学罗盘的工作人员在与多位同学的交流中了解到，很多同学对AFM测试并不是很了解。 鉴于此，科学罗盘组织相关同仁在网上整理了大量知识，希望对科研朋友圈有所帮助。

AFM可以研究样品表面形貌、纳米结构、链构象等，获得纳米颗粒尺寸、孔径、材料表面粗糙度、材料表面缺陷等信息，还可以跟踪表面结构（随时间、温度等）条件改变）。 它还可以对样品的形状进行丰富的三维模拟显示，使图像更符合人的直观视觉。 图 1 显示了纳米粒子的二维几何形貌和三维高度形貌。

原子力显微镜的高度图像可用于样品表面微区的高分辨率粗糙度测量。 利用合适的数据分析软件，可以得到测量区域粗糙度的各种表征参数的统计结果。 一般仪器供应商都会提供配套的数据处理软件。 表面粗糙度的量化常用在美国机械工程学会的ASME B46.1粗糙度分析标准中。 表面平均粗糙度Ra、最大高度粗糙度Rmax和均方根粗糙度Rq是常用的表征粗糙度的参数。 值(Ra)，截面轮廓图中轮廓长度范围内中心线最高点与最低点的高度之差(Rmax)，Rq为轮廓偏差的均方根值来自采样长度内的平均线，即Ra对应的均方根参数。 根据高度数据，计算机可自动计算出轮廓的算术平均偏差Ra、最大高度粗糙度Rmax和均方根粗糙度Rq。

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