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文章分类:文章中心人气:49 次访问时间:2024-05-15 02:05

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光谱测量的基础是测量光辐射与波长之间的对应关系。 一般来说,光谱测量的直接结果是由许多离散点组成的曲线。 各点的横坐标(X轴)为波长,纵坐标(Y轴)为该波长下的强度。

光谱仪的性能可以分为几类。 今天为大家带来一份光谱仪性能指标的简单列表。 希望对您有所帮助!

1.波长范围

波长范围是光谱仪可以测量的波长区间。 常见的光纤光谱仪的波长范围为400nm-1100nm,即可以检测可见光和部分近红外光。

探测器的使用可以将这个范围扩展到200nm-2500nm,覆盖紫外、可见和近红外波段。 光栅的类型以及检测器的类型都会影响波长范围。

一般来说,波长范围大意味着波长分辨率多通道光纤光谱仪,因此用户需要在波长范围和波长分辨率这两个参数之间做出权衡。 如果既需要宽波长范围又需要高波长分辨率,则可以组合多个光谱仪通道(多通道光谱仪)。

2.波长分辨率

顾名思义,波长分辨率描述了光谱仪区分波长的能力。 常用的光谱仪的波长分辨率约为1nm,即可以区分相隔1nm的两条光谱线。 Avantes公司可以提供的高波长分辨率为0.025nm。

波长分辨率和波长的采样间隔(数据横坐标的间隔)是两个不同的概念。 一般来说,高波长分辨率意味着窄波长范围,因此用户需要在波长范围和波长分辨率这两个参数之间做出权衡。

如果既需要宽波长范围又需要高波长分辨率,则可以组合多个光谱仪通道(多通道光谱仪)。

3.噪声等效功率和动态范围

信号的值与噪声的值相当时,就很难将信号与噪声区分开来。 一般用信号等效于噪声的值(光谱辐照度或光谱辐照度)来表征光谱仪可以测量的弱光强度(Y轴的MIN值)。

噪声等效功率越低,光谱仪可以测量的信号越弱。 狭缝宽度、光栅类型、探测器类型等参数都会影响噪声等效功率。

由于这些参数也会影响波长范围和波长分辨率,因此用户需要在这些规格之间做出权衡。 冷却检测器(Avantes 的冷却光谱仪)有助于降低检测器的热噪声并优化检测器检测弱光的能力。

动态范围描述了光谱仪可以测量的强信号与弱信号的比率。 强信号是在信号不饱和的情况下光谱仪可以测量到的大信号值,弱信号是用上面提到的噪声等效功率来测量的。 动态范围主要受检测器类型的限制。

光纤光谱仪的优缺点?_光谱椭偏仪_多通道光纤光谱仪

传统上,动态范围是影响测量便利性的关键指标,但目前大多数光纤光谱仪都可以通过调整积分时间等效地扩大动态范围,因此动态范围一般不会影响用户的测量带宽。 麻烦。

4.灵敏度和信噪比

灵敏度描述了光谱仪将光信号转换为电子信号的能力。 高灵敏度有助于降低电路本身的噪声对结果的影响。

狭缝的宽度、光栅的类型、探测器的类型以及电路的参数都会影响灵敏度。 高衍射效率的光栅和高量子效率的探测器有利于提高光谱仪的灵敏度。 人为提高前置放大电路的放大倍数多通道光纤光谱仪,也会提高标称灵敏度,但对实际测量不一定有帮助。

更宽的狭缝会提高灵敏度,但也会降低分辨率,因此需要用户考虑和权衡。 光谱仪的信噪比定义为光谱仪在强光照射下接近饱和时信号的平均值与信号偏离平均值(水平方向)的抖动值的比值的标准差)。

需要注意的是,由于该定义没有对光源做任何限制,因此使用该定义测得的信噪比不能等同于用户在实际实验中所能达到的信噪比。 光谱仪的信噪比主要受检测器的限制。 通过光谱仪电路的平均功能对信号进行累加,可以提高实际测量中的信噪比。

5.干扰与稳定性

实际光谱仪与理想光谱仪的重要区别之一是其内部存在杂散光等干扰。

杂散光会影响信号的准确性并使微弱信号难以测量。 特殊设计的低杂散光光路,减少光路中的杂散光。

光谱仪的光路和检测器都不可避免地会随着环境的变化而变化,例如环境温度的变化会引起光谱仪波长(X轴)的漂移。 光路和探测器的特殊处理可以提高光谱仪的长期稳定性。 然而,这些特殊处理增加了光谱仪的硬件成本。

6、采样速度和计时精度

该光谱仪可在一秒钟内收集到大约 900 个完整的光谱。 当需要在更短的时间内研究光谱变化时,更快的光谱仪可以在一秒钟内采集多达 8,000 个光谱。

但这些光谱仪在波长分辨率等指标上往往无法与标准光谱仪相媲美,用户还必须综合考虑各项指标。

光谱仪必须具有良好的计时性能才能捕获非常短的脉冲信号。 不同类型的光谱仪的计时精度差别很大。 性能好的时间精度可以达到纳秒级的时间精度,而性能差的时间精度只能达到毫秒级的时间精度。

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HELIOS 是一种自动飞秒瞬态吸收光谱仪。 它可以与各种放大的飞秒激光器匹配,包括高能量钛蓝宝石放大器和高重复率镱放大器。 HELIOS的设计有别于传统的手动泵检测系统,大大提升了研究人员的实验体验。

系统特点:

●更宽的检测光谱范围

●针对瞬态吸收优化的光谱分辨率

8ns时间窗,可扩展至ms

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纳秒级窗口是通过使用直接驱动的高速光学延迟线实现的。 延迟线光学器件具有定制设计的安装座,可提高光束对准的可重复性和整体可靠性。 该延迟线具有高分辨率和高速的特点。 高速扫描很重要,因为它允许伪随机步进而不会显着增加实验时间。 这种类型的步进有助于最大限度地减少激光不稳定性和样品降解的影响。

使用 EOS 插件可以将标准的 8 ns 时间窗口扩展到毫秒。

光延迟线参数:

● HELIOS最大的特点是自动化程度高,保证了系统信号的稳定性,减少了用户经常丢失信号的烦恼。

Helios线阵探测器通过光纤与光谱仪耦合

●样品架

磁力搅拌器可供选择,允许使用封闭的比色皿(≥2 mm 长)和简单的比色皿支架。 平移样品架可用于透射和反射样品。

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