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光谱学可用于多种应用，包括颜色测量、半导体场测量和化学成分浓度。 光谱学的基本思想是，从物质发射、散射、透射或反射的光传递有关其性质和状态的信息（例如其化学或物理成分的参数）。

光谱学在激光领域的主要应用是激光波长测量、激光诱导击穿光谱学和电弧等离子体光谱学诊断。

激光波长测量

随着激光技术越来越多地应用于工业加工、电信、计量甚至医学研究，迫切需要快速测量和分析激光的光谱。

使用光谱仪，可以随时间轻松监测激光的波长、振幅、FWHM 和峰值数量。 您还可以自定义一些参数并观察它们如何随时间变化。 您可以选择多通道光谱仪来满足您对高分辨率同时覆盖 200 至 1100 nm 整个波长范围的需求，或者您可以选择仅覆盖紫外、可见光和近红外部分的激光光谱仪。 当然，选择最终还是要看用户的实际需求。

01 CW激光器的波长测量

对于 CW 激光器，测量特别简单。 启动软件并设置合适的积分时间后，即可得到合适的光谱如下图所示。 为了更准确地测量激光的峰值波长，需要正确设置光谱仪的平滑和样条设置，可参考产品文档完成。 在测量激光时需要注意的是，由于激光的功率较大，激光通常不会直接耦合到光纤上，而是先照射到屏幕上，光纤接收散射的激光信号从屏幕上。

02 脉冲激光的波长测量

对于具有相对较高重复率（例如高于 100 Hz）的脉冲激光器，可以像 CW 激光器一样进行测量。 如果重复率很低，或者需要测量单个脉冲，最好选择光谱仪工作在外触发模式，以保证与激光脉冲的准确同步。

03 随时间监测激光的波长

要随时间监测激光器的波长，只需打开软件的TimeSeries模块，设置您要监测的参数，即可查看随时间推移的激光器参数，如波长、峰值和强度。 该软件还允许用户操作多个窗口，以在一段时间内同时监测多个参数。

激光诱导击穿光谱的应用

激光诱导击穿光谱 (LIBS) 是一种发射光谱技术，它使用脉冲激光在产生等离子体的同时燃烧材料。 通过光谱分析明亮的等离子体，可以获得有关样品元素组成的信息。 LIBS可应用于废金属分选、塑料分析、农药残留检测和矿物分析等。

由于 LIBS 技术无需任何材料制备即可直接分析，并且在许多情况下只需要一个激光脉冲即可分析样品，因此 LIBS 系统能够快速分析大量样品。

对于元素分析，LIBS的具体应用如下

激光束照射到待测物体的表面上。

当焦点处的温度达到一定值时，表面的物质就会变成等离子体并发光。

发射的光被收集并分散到不同的波长以获得光谱数据，然后对其进行分析。

电弧等离子体光谱诊断

随着现代焊接技术的发展，对焊缝质量的检测和控制变得越来越重要。 焊弧光谱仪以其信息含量高、信噪比高、干预少、测控精度高等优点，在许多场合得到成功应用。 电弧光谱的应用领域包括电弧保护、电弧温度场的光谱测量以及气体成分和浓度的测定和控制。 因此，研究电弧的光谱发射及其在不同焊接参数下的变化特性非常重要。

要获取和分析 200 至 1100 nm 波长范围内的焊接光谱信息，建议使用高分辨率多通道（最多 10 个通道）光纤光谱仪。 光谱分辨率（FWHM）可达0.05-0.06纳米，光谱的采样间隔约为0.02纳米。

除了以上应用光纤光谱仪 led，光纤光谱仪还可以广泛应用于石油化工、手机屏幕显示、农产品食品、医药、LED、汽车、环保等领域。 随着我国工业智能制造概念的引入，光谱仪在这些领域的在线应用也将蓬勃发展。

为您的测量选择合适的光谱仪系统的关键是检测器。 确定好待测波长范围后，根据实验的速度和精度要求选择合适的检测器。 当今市场上最常见的光谱检测器是 CCD、CMOS 和 InGaAs 检测器。

CCD 检测器有两种类型：背照式和面照式。 背照式CCD探测器适用于紫外（200-350 nm）和近红外（900-1160 nm）区域的高量子效率、高信噪比和宽动态范围成本更高的应用。

CMOS 检测器速度更快，获取光谱的时间更短，触发延迟性能更好，并且在紫外区域敏感，因此如果您对这些方面感兴趣，建议使用带有 CMOS 检测器的光谱仪。

InGaAs 探测器的动态范围受到暗噪声的限制。 对于1750nm以下的测量光纤光谱仪 led，探测器不需要冷却； 需要扩展到 2000-2500nm 波长范围的应用需要二次冷却的检测器来减少暗噪声。

此外，分辨率、灵敏度、杂散光、二次衍射效应和通信接口也是非常重要的参数。