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中红外 (MIR) 光谱通常在工业和研究中具有广泛的应用。 它通常用于气体、液体和固体的非接触表征，以及近红外光源（尤其是激光）的表征。

NLIR 的中红外光纤光谱仪基于一种新的测量方案，可将中红外光上转换为近可见光。 基于硅的近可见光探测器，如 CCD，在探测灵敏度、速度和噪声方面远优于中红外光探测器。

因此，NLIR上转换技术带来的优势和特点为中红外光检测引入了新范式。

两种版本均具有 -80 dBm/nm 或更高的灵敏度，估计最大全频谱读出率为 130 kHz。 因此，光谱仪能够表征光源（激光器）并测量化学反应过程中的光谱信号，时间分辨率小于 10 µs。

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表征和特征

高灵敏度：高检测率允许检测低至 10 pW/nm 的信号

出色的分辨率：2048像素探测器使仪器在整个带宽内具有6 cm-1的分辨率

坚固耐用：没有移动部件意味着对振动的敏感性低

线性好：硅基探测器的响应线性度很高

高测试速度：高达 400 Hz 全频谱读出率。可定制高达 130 kHz

低噪声：上转换与CCD检测器的结合，极大地避免了热辐射噪声

多功能性：曝光时间五个数量级

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范围

A。 使用100um光纤输入，最低可达3cm-1

b. S2050-130K型号仪器可通过跟踪获得的光谱来增加有效曝光时间

C。 最短曝光时间

d. 空间光输入方式可定制

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应用

1. 纳秒脉冲激光的表征

2、小功率中红外光源检测

3、气体检测

4、化学动力学试验

5.差分吸收激光雷达

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40kHz 单脉冲测量

使用 80 kHz 的全光谱读出率测量来自带宽约为 3.5 µm–4.2 µm 且重复率为 40 kHz 的超连续谱源的 2 ns 单脉冲。 图片中，

(a) 显示 12 ms 数据采集的原始数据，

(b) 在 40 kHz 重复和 80 kHz 采样时，每隔一个读数的放大视图为空，

(c) 显示了 10 个原始连续光谱。 到目前为止，光谱的波动主要来自光源的噪声。

测量结果表明，S2050-130k 光谱仪可以轻松用于表征红外激光或其他动态事件。

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塑料传输测试

在 50 µm 聚苯乙烯 (PS) 薄膜和 800 µm 聚对苯二甲酸乙二醇酯 (PET) 薄膜的透射率测量中，使用 30 W 碳化硅棒作为光源。 S2050-400光谱仪的曝光时间设置为20ms，只获取一次光谱（数据未进行平均或平滑处理）。

对于塑料识别或厚度分析，借助计算机算法，曝光时间更短，因此采集速度更快。

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光学膜透过率测试

使用 30 W SiC 棒作为光源测量光学涂层的透射率：Ge 带通滤波器 (BPF) 用于 3.7–4.5 µm 和涂有 1064 nm 高反射率和 2.1–4.5 µm 高透射率反射镜的 YAG 反射率。 S2050-400 光谱仪的曝光时间设置为 20 毫秒，单次拍摄获得光谱（数据未平均或平滑）。

此类测量用于涂层质量控制，甚至用于生产监控。

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光纤反射探头测量

光纤反射探头是衰减全反射 (ATR) 晶体，具有光纤耦合输入和输出。

在此测量中光纤 光谱仪，来自 30 W SiC 棒的光被耦合到输入光纤中光纤 光谱仪，输出光纤连接到 S2050-400 光谱仪。

这些吸光度曲线是通过首先在空气中使用 ATR 探头作为参考，然后将探头插入水、2-丙醇和葵花籽油中生成的。 均为单次光谱，曝光时间为100 ms，数据经过高斯滤波平滑处理。

详情请联系频谱时代工程师